- Kroschel, Kristian
- Rigoll, Gerhard
- Schuller, Björn W.
Statistische Informationstechnik
- Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalschätzung
- Gebunden,
- 5. Aufl.,
- Springer, Berlin
- (2011)
59,99 €
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Die 5. Auflage des Klassikers zur Statistischen Informationstechnik erfährt eine substantielle Erweiterung im Bereich des maschinellen Lernens. Sie bietet somit einen ausgezeichneten Überblick über die beiden wichtigen Themen Mustererkennung/Signalverarbeitung und Maschinelles Lernen.
Die Autoren behandeln die Signalerkennung im Rauschen und die Mustererkennung sowie die Parameter- und Signalschätzung. Moderne Verfahren wie Wavelet-Transformation oder Clusterbildung mit unscharfen Par ...
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DETAILS
- Statistische Informationstechnik
- Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalschätzung
- Kroschel, Kristian, Rigoll, Gerhard, Schuller, Björn W.
- Gebunden, xii, 372 S.
- XII, 372 S. 155 Abb.
- Sprache: Deutsch
- 235 mm
- ISBN-13: 978-3-642-15953-4
- Titelnr.: 28156064
- Gewicht: 708 g
- Springer, Berlin (2011)
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Tiergartenstr. 17
69121 - DE Heidelberg
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