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Yuan, J. S.Juin Jei LiouSemiconductor Device Physics and Simulation
Gebunden, Springer, Berlin (1998)
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The advent of the microelectronics technology has made ever-increasing numbers of small devices on a same chip. The rapid emergence of ultra-large-scaled-integrated (ULSI) technology has moved device dimension into the sub-quarter-micron regime and put more than 10 million transistors on a single chip. While traditional closed-form analytical models furnish useful intuition into how semiconductor devices behave, they no longer provide consistently accurate results for all modes of operation of ...

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DETAILS

Semiconductor Device Physics and Simulation

Yuan, J. S., Juin Jei Liou

Gebunden, xii, 336 S.

XII, 336 p.

Sprache: Englisch

254 mm

ISBN-13: 978-0-306-45724-1

Titelnr.: 23301430

Gewicht: 885 g

Springer, Berlin (1998)

Herstelleradresse

Springer Heidelberg

Tiergartenstr. 17

69121 - DE Heidelberg

E-Mail: buchhandel-buch@springer.com

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