Das vorliegende Buch dokumentiert umfassende experimentelle und theoretische Untersuchungen zur Injektionsabh¿igkeit von Photo¿strom-Messungen. Die Injektionsabh¿igkeit der Ladungstr¿r¿le¿bens¿dauer von Eisen-kontaminierten bordotierten Siliciumproben wurde mit dem konventionellen Elymat-Verfahren experimentell ermit¿telt und durch zweidimensionale Simulationen verifiziert. Die dabei gewonnenen Ergebnisse sind von grundlegender Bedeutung f¿r die ebenfalls erfolgte Charakterisierung von Isolator/ ...