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Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.

DETAILS

  • Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse
  • Dissertationsschrift
  • Dudeck, Sven Gerhard
  • Kartoniert, X, 283 S.
  • graph. Darst.
  • Sprache: Deutsch
  • 21 cm
  • ISBN-13: 978-3-7315-0019-3
  • Titelnr.: 39922522
  • Gewicht: 527 g
  • KIT Scientific Publishing (2013)
  • Herstelleradresse

    KIT Scientific Publishing

    Strasse am Forum 2|76131|Karlsruhe|DE

    E-Mail: info@ksp.kit.edu

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